حصلت معدات اختبار Haida على شهادة مؤسسة التكنولوجيا الفائقة الجديدة في 2019 هاتف :+86-13602361535 البريد الإلكتروني:[email protected]
شريحة SATA مخصصة لدرجات الحرارة العالية والمنخفضة وغرفة الشيخوخة المتسارعة 72 قطعة
ميزة
ل.دعم تخصيص عدد قطع اختبار الإنتاج الضخم SATA، مثل 30 قطعة، 36 قطعة، 42 قطعة، 48 قطعة، 54 قطعة، 72 قطعة، 100 قطعة، 160 قطعة، 200 قطعة، وما إلى ذلك؛
ل.دعم البحث والتطوير للتخصيص المصغر، مثل 6 قطع، 12 قطعة، وما إلى ذلك؛
ل.يدعم (-70°~+ 180°) امتحان؛
ل.دعم اختبار فشل الطاقة غير الطبيعي واختبار الشيخوخة.
ل.دعم اختبار التحكم في درجة الحرارة التلقائي.
ل.دعم كافة البرامج لاختبار التحكم الذكي؛
ل.دعم تخصيص برامج الاختبار؛
ل.دعم توازن سرعة الهواء ودرجة الحرارة في الصندوق؛
ل.دعم التحكم السريع في التدفئة والتبريد.
ل.دعم البحث والتطوير المخصص لشيخوخة PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash؛
ل.دعم التحكم في الشبكة، يمكنك التحكم في الاختبار في أماكن مختلفة وعرض نتائج الاختبار؛
ل.دعم اختبار التحكم عن بعد التطبيق.
معلومات
نموذج | هد-72-ساتا |
حجم الصندوق الداخلي | العرض 500 × العمق 400 × الارتفاع 1020 ملم |
حجم الصندوق الخارجي | حولالعرض 1250 × العمق 1350 × الارتفاع 1910 ملم |
حجم | 204 لتر |
طريقة الفتح | باب واحد (مفتوح لليمين) |
طريقة التبريد | تبريد الهواء |
الوزن | حول930 كجم |
مزود الطاقة | تيار متردد 220 فولتحول12 كيلو واط |
Tمعلمة درجة الحرارة
نطاق درجة حرارة | -70 درجة مئوية ~ 150 درجة مئوية |
درجة الحرارة تقلب | ≤±0.5 درجة مئوية ≤±1 درجة مئوية |
تعويض درجة الحرارة | ≤±2 درجة مئوية |
قرار درجة الحرارة | 0.01 درجة مئوية |
معدل التدفئة | 5 درجة مئوية/دقيقة(التبريد الميكانيكي، تحت الحمل القياسي) |
معدل تغير درجة الحرارة | درجة حرارة عالية يمكن أن تلبي 5درجة مئوية ~8 درجة مئوية/دقيقة غير خطية قابلة للتعديل (يتم قياسها عند مخرج الهواء، التبريد الميكانيكي، تحت الحمل القياسي)، يمكن أن تلبي درجة الحرارة المنخفضة 0درجة مئوية ~2 درجة مئوية/دقيقة غير خطية قابل للتعديل (يتم قياسه عند مخرج الهواء، التبريد الميكانيكي، تحت الحمل العادي) |
توحيد درجة الحرارة | ≤±2 درجة مئوية |
الحمل القياسي | كتلة ألومنيوم 10 كجم، حمل 500 وات؛ |
قواعد الامتحان
GB / T5170.2-2008 معدات اختبار درجة الحرارة
GB / 2423.1-2008 (IEC60068-2-1: 2007) طريقة اختبار درجة الحرارة المنخفضة AB.
GB / 2423.2-2008 (IEC60068-2-2: 2007) طريقة اختبار درجة الحرارة العالية BA.
GJBl50.3 (MIL-STD-810D) طريقة اختبار درجة الحرارة العالية.
GJBl50.4 (MIL-STD-810D) طريقة اختبار درجة الحرارة المنخفضة. |
اترك رسالة
رابط سريع
هيدا معدات الاختبار
عنا
اتصل بنا