حصلت معدات اختبار Haida على شهادة مؤسسة التكنولوجيا الفائقة الجديدة في 2019 هاتف :+86-13602361535 البريد الإلكتروني:[email protected]
نظام الاختبار الذكي لرقاقة ذاكرة الفلاش المحمولة
نظام الاختبار الذكي لرقاقة ذاكرة الفلاش المحمولة
وصف المنتج:
نظام الاختبار الذكي HD-N8-NAND هو نظام اختبار ذاكرة فلاش شامل يمكن تخصيصه لاختبار ما يصل إلى 8 جزيئات فلاش بالتوازي.
يدعم HD-N8-NAND مجموعة واسعة من أنماط الاختبار ومعلمات الاختبار المخصصة. إنه يوفر تدفق اختبار أساسي بنقرة واحدة، واختبار تجريبي مرن للغاية، وتدفق اختبار متقدم، ويمكنه توفير تدفق اختبار أساسي بنقرة واحدة، واختبار تجريبي مرن للغاية وتدفق اختبار متقدم، والذي يمكنه تحقيق اختبارات وظيفية مختلفة مثل الحياة المتبقية التنبؤ والاختبار الحقيقي والاحتفاظ بالبيانات واضطراب قراءة جزيئات ذاكرة الفلاش. يمكن تصدير تقرير الاختبار بسرعة وسهولة بعد الانتهاء من الاختبار. فهو يوفر بيانات الاختبار الرسومية الأكثر سهولة لتوفير المرجع الأكثر دقة لتصنيف جسيمات الفلاش وتطبيقها. كما أنه يوفر المرجع الأكثر دقة لتصنيف وتطبيق جسيمات الفلاش ويتيح التصنيف الذكي بناءً على نتائج اختبار جودة جسيمات الفلاش.
المواصفات الفنية:
الخصائص الفيزيائية | |
حجم المعدات | دبليو 400×[إتش510]×د520 ملم |
طريقة إمداد الطاقة | مكيف الهواء |
تعمل مجموعة الجهد | تيار متردد (220±10٪) سلك V أحادي الطور + أرض واقية |
استهلاك طاقة العمل العادي | 2 كيلو واط |
نطاق الحرارة الشغالة | -30 درجة مئوية ~150 درجة مئوية |
مدى درجة حرارة التخزين | -20 درجة مئوية ~60 درجة مئوية |
نطاق رطوبة التشغيل | 45%~75% |
أداء النظام | |
عدد الجسيمات التي يمكن اختبارها على التوازي | 1 ~ 8 قطع |
ماركات الفلاش المدعومة للاختبار | SLC، حركة تحرير الكونغو، TLC، سانديسك، الخ. من Micron، Intel، YMTC، Hynix، Toshiba، Sandisk، إلخ، جزيئات شريحة NAND Flash من نوع QLC (يتم توسيع النطاق) |
أحجام الحزمة المدعومة | BGA152، BGA132 (تتوفر ملحقات مخصصة) |
أنواع بروتوكولات الفلاش المدعومة | ONFI/تبديل جزيئات الواجهة |
الجهد المدعوم | دعم الأجهزة V1.2، V1.8 اختياري |
نطاق سحب الجهد المدعوم | يمكن ضبط دعم البرامج بدقة vcc2.3~3.6 VCCQ1.2 1.15 ~ 1.25 VCCQ1.8 1.70 ~ 1.95 |
يدعم نطاقات الاختبار الاختيارية | الإعدادات الفردية لعدد كتل البداية، والفاصل الزمني بين الكتل، وعدد الدورات، ووقت الاختبار، وما إلى ذلك. |
نمط الدعم | الكل 0، الكل 1، الكل 5، شبه عشوائي، شبكة رقعة الشطرنج، سطر كلمة عشوائي، إلخ. |
دعم لأنواع أوامر الاختبار | فحص معلومات ذاكرة الفلاش اختبار أداء ذاكرة الفلاش اختبار الحياة والتنبؤ تصنيف فئة الجودة اختبار تدخل البيانات اختبار الاحتفاظ بالبيانات وظيفة القراءة وإعادة المحاولة اختبار مدى الحياة والتنبؤ تخصيص ECC |
اترك رسالة
رابط سريع
هيدا معدات الاختبار
عنا
اتصل بنا